D.参考测量标准、地点 E.使用条件、时间
69、测量控制体系由( )组成。
A.测量仪器的校准控制 B.测量设备的计量确认 C.测量过程实施的控制
D.测量结果的分析校准 E.测量过程的变异评价
70、以下有关测量控制体系的表述中正确的有( )。
A.测量控制体系,是指为实现测量过程的连续控制和计量确认所需的一组相关的或相互作用的要素
B.测量控制体系的目标,在于控制由测量设备和测量过程产生的不正确的测量结果及其影响
C.为保证测量控制体系满足规定的计量要求,所有测量设备都须经过计量确认,而且测量过程应受控
D.测量控制体系采用的方法不仅是测量设备的分析/控制,还包括应用统计技术对测量过程的变异做出评价
E.测量控制体系由两部分组成:测量设备的计量确认和测量过程实施的控制
答案:
第1题 试题答案:D
试题解析: 随机事件发生的可能性的大小就是事件的概率。
第2题 试题答案:B 试题解析:
设事件A=“仪表正常工作1000小时”,事件Ai=“第i个元件能 正常工作1000小时”
1)用元器件时有
P(A)=P(A1)P(A2)…P(A228)=(0.998)228=
2)用电子元件时有
P(A)=P(A1)P(A2)P(A3)…P(A22)=(0.998)22=
第4题 试题答案:B
试题解析: 对于C项会遇到二项分布,对于A项会遇到泊松分布,对于D项可能会遇到正态分布。
第5题 试题答案:C
试题解析: 对数正态分布的特点之一就是“右偏分布”,符合右偏分布的随机变量的取值大量在左边,少量取值在右边,并且很分散。
第6题 试题答案:C
试题解析: 因子常用大写字母ABC等表示。因子所处的状态称为因子的水平,用因子的字母加下标来表示,如因子A的水平用A1、A2、A3等表示。
第7题 试题答案:D
试题解析: 一元回归方程的表达形式有两种,一是 ,当x=0时 =a,必经过(0,a)点,二是 ,当x= 时 , 必经过 点,当x=0时 ,也必经过 点。